基體及不均勻效應是造成手持式光譜儀X射線強度高低的根本原因

　　1、基體效應

　　基體效應有吸收效應和增強效應的吸收效應，基體對入射x射線的吸收和熒光x射線的吸收。這是因為用放射線激勵試樣時，不僅作用于試樣表面，還可以透過一定的厚度進入試樣內部。另外，試樣內部的分析元素產生的熒光x射線也必須透過一定厚度的試樣才能射出。在透射過程中，這兩種x射線均會因基體元素的吸收而導致輻射強度減弱，輻射減弱會影響對分析元素的激發效率。

　　當入射x射線激發基質元素產生的熒光x射線波長略短于分析元素吸收端時，分析元素產生二次熒光x射線，分析元素的熒光x射線強度增強。這就是基質的增強效果。

　　吸收效應占主導地位時分析結果較低，增強效應占主導地位時分析結果較高。

　　2、不均勻效應

　　不均勻效應是指樣品顆粒大小不均勻，樣品表面光澤度對熒光x射線強度的影響。在粉末樣品中，大粒子的吸收效果強，小粒子的吸收效果弱，因此為了降低x射線的吸收，要求盡量減小粒子的粒度。測量短波x射線時，粒度要求250目以上，測量波長大于0.2nm的長波x射線時，粒度要求400目以上。

　　固體試樣必須研磨，粉末試樣必須壓實使表面平滑。表面粗糙會明顯降低熒光x射線的強度。測量短波x射線時，光澤度為1005m左右，測量長波x射線時，光澤度為20-50Mm。